Độ phân giải không gian cao nhất
Chụp ảnh lập bản đồ truyền tia X
Chế độ chân không kép
Toàn bộ dải kích thước mẫu
Phần mềm tích hợp thu thập và phân tích dữ liệu
XGT-7200 đại diện cho một thế hệ mới của kính hiển vi XRF, và hướng tới một kỷ nguyên mới của khoa học công nghệ. Nó cung cấp sự sáp nhập liên tục giữa quan sát quang học và các chức năng phân tích cơ bản, cách mạng thế giới của vi phân tích và thiết lập vi XRF như một công cụ thường xuyên cho các nhà nghiên cứu và phân tích khoa học.
Các tính năng phần cứng độc đáo đảm bảo hệ thống cung cấp tính linh hoạt và linh hoạt cho mọi phép đo. Sự lựa chọn của hai ống dẫn hướng dẫn bằng tia X được kiểm soát bằng phần mềm có đường kính từ 10 μm đến 1,2 mm cho phép điều kiện được tối ưu hóa cho một loạt phép đo, kể cả vi và vĩ mô. Tương tự, với chế độ Dual Vacuum Vacuums duy nhất, có thể chuyển đổi trong vài giây giữa chế độ chân không cao và chế độ chân không đa năng. Loại thứ hai duy trì mẫu ở áp suất khí quyển trong khi vẫn giữ được độ nhạy cảm đối với tất cả các nguyên tố từ natri đến urani
Thông số kỹ thuật
Ống dẫn tia X: Ống mao dẫn đơn sắc
Kích thước điểm tia X: Tùy chọn trong dải từ 10 µm đến 1.2 mm
Hình ảnh quang học: Toàn bộ hình ảnh quang học của mẫu và hình ảnh phóng đại đồng trục
Kích thước mapping bệ mẫu: XY : 100mm×100mm
Buồng mẫu: 300mm×300mm×80mm
Dải phân tích nguyên tố: Từ Na đến U
Ống phóng tia X: bia Rh / Điện thế 50kV / Dòng điện 1mA
Đầu dò huỳnh quang tia X: Đầu Silic Drift Detector (SDD) được làm lạnh bằng điện - hiệu ứng Peltier
Đầu dò tia X truyền qua: Lớp chất nhấp nháy Nai(Tl)
Xử lý tín hiệu: Bộ xử lý kỹ thuật số (bộ INCA)
Phân tích định tính: Tự động nhận dạng/ Đánh dấu KLM/ Tìm đỉnh/ So sánh các phổ
Phân tích định lượng: FPM không theo chuẩn / Chuẩn FPM / FPM phù hợp file chuẩn/ Đường cong hiệu chuẩn / FPM đa lớp (đo độ dày) /Phân tích đa điểm(Max5000) / Kết quả đa điểm kết xuất ra file Excel / Quan sát phổ