Dòng thiết bị phân tích huỳnh quang tia X mới với buồng mẫu lớn, được trang bị đầu dò SDD không sử dụng nitơ lỏng. Ứng dụng cho tiêu chuẩn ROHS/ELV/WEEE Có thể chọn thêm chức năng phân tích As/Sb và đo độ dày đa lớp mạ/lớp phủ.
1. Tốc độ
- Đầu dò Silic (SDD) giúp giảm thời gian phân tích và tăng độ nhạy giúp phân tích đạt năng suất cao.
2. Kích thước nhỏ, gọn
- MESA-50K có buồng mẫu lớn mà không ảnh hưởng đến diện tích làm việc. Kết nối với máy tính bằng cổng USB.
3. Đơn giản
- Giảm bớt công tác bảo trì (vận hành không cần Nitơ lỏng)
- Không cần bơm chân không
- Quá trình đo đơn giản trực quan cho tất cả các loại vật liệu
4. Thông minh
- Giao diện tiếng Anh/ Tiếng Nhật/ Tiếng Trung
- Công cụ quản lý dữ liệu Excel®
5. An toàn
- Không phải lo lắng về sự dò rỉ tia X